商品名称:LMG3422R030RQZR
データマニュアル:LMG3422R030RQZR.pdf
ブランド:TI
年:21+
パッヶージ:VQFN54
納期:真新しいオリジナル
在庫数量:2000 件
LMG342xR030 GaN FET は、ドライバと保護機能が統合されているため、設計者はパワー エレクトロニクス システムでより高いレベルの電力密度と効率を実現できます。
LMG342xR030 には、最大 150 V/ns のスイッチング速度を可能にするシリコン ドライバが組み込まれています。 TI の統合高精度ゲート バイアスにより、ディスクリート シリコン ゲート ドライバと比較して、より高いスイッチング SOA が可能になります。この統合機能を TI の低インダクタンス パッケージング技術と組み合わせることで、ハード スイッチ電源トポロジーでクリーンなスイッチングと超低リンギングを実現します。調整可能なゲート駆動強度により、20 V/ns ~ 150 V/ns のスルー レート制御が可能になり、EMI をアクティブに制御し、スイッチング性能を最適化するために使用できます。 LMG3425R030 には、適応デッドタイム制御を有効にすることで第 3 象限損失を低減する理想ダイオード モードが含まれています。
高度な電源管理機能には、デジタル温度レポートと障害検出が含まれます。 GaN FETの温度は、可変デューティ・サイクルのPWM出力を通じて報告されるため、デバイスの負荷管理が簡素化されます。報告される障害には、過熱、過電流、および UVLO の監視が含まれます。
特性
• ハード スイッチング トポロジの JEDEC JEP180 に準拠
• 統合ゲート ドライバを備えた 600 V GaN-on-Si FET
高精度ゲートバイアス電圧を内蔵
200V/nsのCMTI
2.2MHzのスイッチング周波数
最適化されたスイッチング性能と EMI 軽減のための 30 V/ns ~ 150 V/ns スルーレート
7.5V~18Vの電源で動作
• 強力な保護
100 ns 未満の応答時間でのサイクルごとの過電流およびラッチ式短絡保護
ハードスイッチング時の 720V サージに耐える
内部過熱および UVLO 監視に対する自己保護
• 高度な電源管理
デジタル温度 PWM 出力
理想ダイオード モードにより LMG3425R030 の第 3 象限損失を低減
モデル
ブランド
パッヶージ
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説明
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